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走査型プローブ顕微鏡
SPM-8100FM

島津製作所

HR-SPMは周波数検出方式を採用した新世代の走査型プローブ顕微鏡です。大気中・液中における超高分解能観察だけでなく、固液界面の水和・溶媒和の観察が初めて可能となりました。
HR-SPM:High Resolution Scanning Probe Microscope

特長

● 高分解能

    •  FM方式の採用
    •  大気中・液中でのノイズを従来比1/20に低減
    •  真空型SPMの性能を大気中・液中で実現
      従来のSPM(走査型プローブ顕微鏡) / AFM(原子間力顕微鏡)は、一般にAM(振幅変調)方式ですが、FM(周波数変調)方式は、原理的に高感度測定法であり、より高い分解能での撮像が可能となります。
      SPM : Scanning Probe Microscope
      AFM : Atomic Force Microscope
      AM : Amplitude Modulation
      FM : Frequency Modulation

● 操作性の向上
HTスキャナの搭載により、観察エリアが拡大、さらに高速に!デュアルモニター、信号表示機能により、フレキシビリティが格段に向上!

● 水和・溶媒和構造の観察
水和・溶媒和を計測する際の、カンチレバーが受ける力の変動は非常に小さいため、超高感度なFM方式により初めて計測することが可能となりました。Z-X断面の水和・溶媒和構造計測だけでなく、Z-XYの三次元構造解析も可能です。HR-SPMは表面観察だけではなく、固液界面の構造解析装置に進化します。

主な仕様

分解能 XY:0.2 nm Z:0.01 nm
SPMヘッド 変位検出系 光源 / 光てこ / 検出器
光源 レーザーダイオード
(635 nm,5 mWmax,On / Off可能)
試料交換中もカンチレバーに対して連続照射
検出器 フォトディテクター
変位換算ノイズレベル 20fm/√Hz以下
スキャナ 駆動素子 チューブ型ピエゾ素子
最大走査範囲 10 µm × 10 µm × 1 µm(X・Y・Z)
ステージ 試料最大形状 Φ38 mm × 8 mm
試料交換方式 ヘッドスライド機構
試料固定方式 マグネットによる固定
XYステージ 10 mm × 10 mm
Z軸粗動機構 方式 ステッピングモーターによる全自動機構
最大可動範囲 10mm
光学顕微鏡 CCD 素子サイズ:1/3インチ
有効画素数:1024×768
レンズ 作動距離:65mm
光学倍率:4倍
照明 同軸落射照明
除振機構 除振台 SPMユニットに内蔵

メーカー製品URL:
https://www.an.shimadzu.co.jp/products/surface-analysis/high-resolution-scanning-probe-microscope/spm-8100fm/index.html

情報提供元: 株式会社島津製作所

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。