特長

● 高い汎用性
測定範囲は17nm～2500µｍ（多機能サンプラによる湿式測定の場合）例えば平均粒子径50nmのポリスチレンラテックス粒子から直径2mmのステンレスボールまで1台の装置で測定できます。

● 高感度・高濃度
低濃度0.1ppmから高濃度20％の幅広い粒子濃度に対応 粒子濃度によって変化する粒子径分布を確実にキャッチ 粒子径分布を測定する場合、従来はサンプルの粒子濃度を測定装置の条件に合わせるために希釈や、場合によっては遠心分離器による濃縮が行われてきました。 これは、粒子濃度によって分散や凝集の状態が異なり、粒子径分布が変化する可能性が一切考慮されていなかったことを意味しています。

主な仕様

● ハードウェア仕様：全般

測定原理	レーザ回折・散乱法
測定範囲	17nm（0.017µm）～ 2500µm（多機能サンプラ使用時）
	17nm（0.017µm）～ 400µm（回分セル使用時）
	30nm（0.030µm）～ 280µm（高濃度測定ユニット使用時）
	300nm（0.3µm）～ 2500µm（乾式測定ユニット使用時）

※　測定範囲は粒子の形状等の性質に依存します。

● ハードウェア仕様：本体（測定部）：SALD-2300（P/N S347-61700-41）

光源	半導体レーザ（波長680nm）
受光部	半導体レーザ用検出素子採用 合計 84素子（前方78、側方1、後方5）
規格	クラス1レーザ製品
所要電源	AC100V±10%　1A　50 / 60Hz
大きさ・重さ	約W680×D280×H430mm、約31kg
使用環境	温度：10～30℃ 湿度：20～80％（結露しないこと）

※1　USBケーブル（2m）、参照試料を標準付属
※2　検定用粒子の測定には、70～200W程度の超音波洗浄機が必要となります。超音波洗浄機は、特別付属品としてご用意しております。（P/N S347-61090　超音波洗浄機、100W）