リタデーション測定装置
RETS-100nx

大塚電子

OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です

特長

● 高速な多波長測定が可能
● 任意波長での高精度なリタデーション測定が可能

測定項目（フィルム、光学材料）	リタデーション（波長分散）、遅相軸、Rth※1、三次元屈折率※1など
測定項目（偏光板）	吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など
測定項目（液晶セル）	セルギャップ、プレチルト角※1、ツイスト角、配向角など
リタデーション測定範囲	0 ～ 60,000nm
リタデーション繰り返し性	3σ≦0.08nm （水晶波長板約600nm）
セルギャップ測定範囲	0 ～ 600µm （Δn=0.1の場合）
セルギャップ繰り返し性	3σ≦0.005µm （セルギャップ約3µm、Δn=0.1の場合）
軸検出繰り返し性	3σ≦0.08° （水晶波長板約600nm）
測定波長範囲	400 ～ 800nm （他選択可能）
検出器	マルチチャンネル分光器
測定径	Φ2mm （標準仕様）
光源	100W ハロゲンランプ
データ処理部	パーソナルコンピュータ、モニター
ステージサイズ：標準	100mm × 100mm （固定ステージ）
オプション	超高リタデーション測定多層測定軸角度補正機能自動XYステージ自動傾斜回転ステージ

※1　自動傾斜回転ステージが必要です（オプション）

情報提供元: 大塚電子株式会社

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。