高速リタデーション測定装置
RE-200
大塚電子
0.1秒以下で光軸検出と同時にリタデーション（Re.）の高速測定が可能
特長
● 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能
● 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現
● 設定する測定項目が少なく、測定が簡単
● 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ
● 測定項目
リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）、主軸方位角（θ[deg.]）、楕円率（ε）・方位角（γ）、三次元屈折率（NxNyNz）
● 測定対象
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- 位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
- 樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）
主な仕様
| サンプルサイズ | 最小10×10mm ～ 最大100×100mm |
| 測定波長 | 550nm （標準仕様） |
| リタデーション測定範囲 | 約0nm ～ 約1µm |
| 軸検出繰り返し精度 | 0.05°（at 3σ） |
| 検出器 | 偏光計測モジュール |
| 測定スポット径 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W ハロゲンランプ または LED光源 |
| 本体・重量 | 300(W)×560(H)×430(D) mm 、約20kg |
メーカー製品URL:
https://www.otsukael.jp/product/detail/productid/73
情報提供元: 大塚電子株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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