走査電子顕微鏡
JSM-IT510 InTouchScope™
日本電子
必要なデータを、いつだってシンプルに。
従来SEM観察に必要とされたマニュアルによる繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
特長
● Simple SEM：撮影したい視野を選ぶだけ
● 試料交換ナビ：試料を入れて、迷わず観察
● Zeromag：光学像を拡大すれば、SEM像
Zeromagは、ホルダーグラフィックや光学像※とSEM像が連動する機能です。
複数の試料をホルダーにセットした場合や特定箇所を観察する場合の視野探しが容易になります。
※ 光学像を表示するにはオプションのステージナビゲーションシステム（SNS）が必要となります。
● Live Analysis / Live Map※：観察中も常に元素分析
Live Analysisは、常に特性X線スペクトルや元素マップを表示させる機能です。
観察しながら、目的の元素を探すことができます。
※ A（Analysis） / LA（Low Vacuum & Analysis）に適用されます。
メーカー製品URL:
https://www.jeol.co.jp/products/scientific/sem/JSM-IT510.html
情報提供元: 日本電子株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。