透過電子顕微鏡
JEM-120i
日本電子
もっとみんなの身近なツールへ加速電圧120 kVの透過電子顕微鏡（TEM）は、生物・高分子といったソフトマテリアルの分野で多く利用されています。今回、『Compact』,『Easy To Use』,『Expandable』をコンセプトとして新たにJEM-120iを開発しました。外観を一新するだけでなく、操作からメンテナンスまでどなたでも簡単に使える装置へと進化しました。
特長
● コンパクト
JEM-120iは大幅なサイズダウンにより、フィラメント交換位置や試料ホルダーの挿入位置が従来より低くなりました。さらに、カートリッジ式のフィラメントユニットを開発することで誰でも簡単かつ安全にフィラメント交換ができるようになっています。また、装置正面に搭載したLEDライトは、TEMの状態に応じて色が変化するので、装置の稼働状態を離れたところからでも把握することができます。
● 簡単ステップでできる試料観察
試料挿入から観察終了まで、4つのステップで完了できるようになりました。試料ホルダー挿入後、スタートボタンをクリックすると昇圧からビームONなどの観察準備操作を自動で行います。同時に広域画像も撮影するので、目的の視野をクリックするだけでステージ移動が完了します。
そして、標準搭載の「Butlerモード」がデータ取得をアシストしてくれるので、初心者でも簡単にデータを取得することができます。観察終了時にはビームをOFFにすることなく試料ホルダーを交換できるようになりました。
● 低倍率から高倍率までシームレスに観察
JEM -120iは、TEM制御系の見直しと絞りの完全自動化により、倍率モードの切り替えおよび絞りの選択が不要となりました。従来よりも一連の観察操作をスムーズに行うことができます。
● 拡張性
JEM -120iは様々なレトロフィットに対応しています。購入後に機能を追加したいというニーズにもお応えします。
メーカー製品URL:
https://www.jeol.co.jp/products/scientific/tem/JEM-120i.html
情報提供元: 日本電子株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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