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クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置
IB-19530CP

日本電子

IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™は、多様化する市場ニーズに応えるべく、マルチパーパスステージを採用し、各種機能ホルダーを交換することで多機能化を実現しました。

特長

● 高速加工と仕上げ加工をプログラムすることができます

    • 「自動加工開始モード」… イオンビーム照射と停止を一定間隔で繰り返し、試料の温度上昇を抑えることができます。
    • 「間欠加工モード」… イオンビーム照射と停止を一定間隔で繰り返し、試料の温度上昇を抑えることができます。
    • 「仕上げ加工モード」… 高加速電圧の加工後、低加速電圧の加工に自動で切り替えて、短時間で高品質な断面作製が可能です。特に結晶構造解析のための試料作製に有効です。

主な仕様

● 標準仕様

形式 IB-19530CP
イオン加速電圧 2~8kV
ミリングスピード 500μm/h以上(加速電圧8kV) ※1
試料スイング機能 ※2 ±30°自動スイング
自動加工開始モード 設定した圧力値に到達後、自動で加工開始
間欠加工モード イオンビーム照射時間と停止時間を設定可能(ON:1~999秒、OFF:1~999秒)
仕上げ加工モード 自動的に加工条件切り替え
広域断面ミリングモード 最大加工幅:8mm(オプション: 広域加工ホルダー IB-11730LMH)
最大搭載試料サイズ 断面ミリング 11mm (幅)×10mm (長さ)×2mm (厚さ)(標準付属試料ホルダー)
25mm (幅)×15mm (長さ)×10mm (厚さ)(オプション:広域加工ホルダー IB-11730LMH)
平面ミリング 40mm (直径)×15mm (厚さ)(オプション:大形試料回転ホルダーIB-11550LSRH)
試料移動範囲 X軸:±6mm、 Y軸:±2.5mm
操作法 タッチパネル、6.5型ディスプレー
加工位置合わせ法 カメラにより試料ステージ上をモニター※3。 光学顕微鏡下でも加工位置調整可能
位置合わせ用カメラ倍率 約×70(6.5型ディスプレー上)
加工観察用カメラ倍率 ※4 約×20 ~ ×100(6.5型ディスプレー上)(IB-14510MCAM取り付け時)
外部モニター出力 ※4 位置合わせ用カメラと加工観察用カメラを切り替えて外部モニターに表示可能(IB-14510MCAM取り付け時)
プリセット機能 加工条件 (加速電圧、アルゴンガス流量、加工時間、間欠加工)を4組プリセット
寸法・質量 本体 545mm (幅)×550mm (奥行)×420mm (高さ)、約66kg(IB-14510MCAM取り付け時)
ロータリーポンプ 120mm (幅)×288.5mm (奥行)×163mm (高さ)、約9.3kg

※1 2時間の平均値、Si換算、エッジ距離100µm
※2 特許:第4557130号
※3 特許:第4208658号
※4 IB-14510MCAMを装着すると、試料をリアルタイムでモニターすることができます。ミリング中の試料の状態を観察できます。外部モニターはお客様にてご用意ください。

メーカー製品URL:
https://www.jeol.co.jp/products/scientific/cp/IB-19530CP.html

情報提供元: 日本電子株式会社

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
 また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。