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  IXplore IX85 Pro

  エビデント

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  スピニングディスク型共焦点超解像システム

  IXplore IX85 Spin

  エビデント

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  スピニングディスク型共焦点超解像システム

  IXplore SpinSR

  エビデント

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  ドキュメンテーション用蛍光イメージングシステム

  IXplore Standard

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  半導体 / FPD検査顕微鏡

  MX63 / 63L

  エビデント

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  LSI検査顕微鏡用ウェハローダ

  NWL200シリーズ

  ニコン