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KEITHLEY オンライン・セミナ 2022 : 見逃した方必見

2022.02.10

イベント等

KEITHLEY/テクトロニクス&ケースレー

キャンペーン期間:2022年3月16日(水)・17日(木)

~DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで~

<こんな方におすすめ>

  • 半導体や電子部品の検査、製造メーカ
  • 半導体や電子部品の検査機器メーカ
  • 半導体、素材、バイオ関連の研究所、大学

* 半導体はダイオード、トランジスタ、MOSFETなど、電子部品はセンサ、DC-DCコンバータ、バッテリ、光学センサなど

<セッション構成/スケジュール>

日程 セミナタイトルと講師
3/16(水)
10:00

不安や迷いを解消!最適なDC測定器の選び方

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ ベレス・ベレス・ファン / 池田 一樹

世の中には様々な電気測定器と手法が存在します。測定の対象物や目的、必要な精度、測定回路等の様々な条件によって最適な手法、選択すべき測定器、接続配線、ソフトウェア等が存在し、これから電気測定を始める方や電気測定を始めた方にとってはどれを選択しどのように使用すべきか非常に困惑する要因と言えます。このセッションでは、そのような課題に対し下記の5つの具体的な計測器の使用例を示しながら解説を行います。 ・DMMを使用する場合 ・電源を使用する場合 ・DMMと電源を使用する場合 ・SMUを使用する場合 ・SMUとDMMを使用する場合 さらに、それぞれ異なった仕様や機能をもつ測定器や、複数の測定器を組み合わせて測定を行う場合に対して、何をどのように組み合わせ、接続し、何に注意すべきかを解説し、それら複数の機器を効率良く運用するためのソフトウェアについてもご紹介いたします。

3/16(水)
11:00

SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 大里 一徳

いわゆる省エネ半導体として実用化の期待が高いガリウムナイトライド(GaN)及びシリコンカーバイト(SiC)について、ワイドギャップ半導体とは何か、GaNやSiCはどのような特性を持ち、どこが有望なのか、どのようなアプリケーションが期待できるのか等について解説し、それらの電気特性測定を行うために必要な測定器ラインナップ、実際にそれらの運用する上で注意すべき機器の接続、安全対策や保護回路について解説します。ワイドギャップトランジスタに対しキーとなる具体的な5つのテストに対し、それらの測定を実現するための詳細や必要な機器を示します。これからワイドギャップ半導体の評価を始めようとする方に最適なセミナーです。

3/16(水)
13:00

恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 宮本 純一

ディスクリート部品や半導体デバイスの信頼性試験は、全ての製品において何らかの形で行われます。目的は様々です。不良モードの探索と削減、耐ストレスの保証、バーンインなどのスクリーニング、あるいは加速試験による寿命予測などです。しかし多くの皆様からの共通のご要求は、パッケージデバイスを用い、恒温槽で温度ストレスをかけ、電気測定器でストレス印加と特性評価をしたいというものです。 一見単純な信頼性試験は地味に面倒な課題を抱えます。特に長時間試験と測定の並列化は重要なポイントです。これは導入コスト、テストコスト、評価パラメータの策定のすべてに関わってきます。また恒温槽の制御や安全性の確保なども計画段階で考慮しなければならない点です。 本講演では、恒温槽の制御例、並列化の手法と各手法のメリットデメリットなど皆様が実践で考慮するべき情報を提供いたします。

3/16(水)
14:00

PLCによる計測器制御簡略化のヒント~通信・制御トラブルのリスクを最小限に

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 宮尾 豊

ファクトリーオートメーションで一般的に利用されているPLCから計測器を制御されている、または予定しているお客様を対象としたセッションです。また、PLCだけでなく、PCからの制御でも、計測器との通信、制御トラブルに悩んでいる方にも参考になるかもしれません。 このセッションでは、計測器で一般的に使用されるSCPIコマンドを利用した制御において、特に頻繁に計測器との通信を行うようなケースで見られる制御、通信トラブルについて、どういった内容のトラブルが多いのか、リスクを最小限にするために考慮すべきこと、IOによる制御をメインに行う方法について解説します。

3/17(木)
10:00

半導体パラメータ・アナライザの基礎セミナ~電気特性評価の基礎を学ぶ

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 大里 一徳

半導体パラメータ・アナライザは、高感度の電流/電圧測定、インピーダンス測定(CV測定)、超速IV測定(パルス測定)が1台で簡単、正確に実現できる測定器として、半導体デバイス、材料、電子部品など様々なデバイスの電気特性評価に活用されています。本セミナでは、半導体パラメータ・アナライザを使用する際に知っておくべき基本知識や被測定物との配線を含む測定時の注意点を解説いたします。これから電気特性評価を始める方に最適なセミナです。

3/17(木)
11:00

ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 大里 一徳

半導体素子や材料をはじめとした電子部品の基本特性を知るうえで、容量―電圧特性試験を正しく実現することは非常に重要です。ただ、一般的な半導体パラメータアナライザでサポートされた容量測定では、内部の電圧バイアスレンジに制限があり、例えば今日急速に開発や実用化が進むハイパワーデバイスのような高い電圧バイアスを必要とする素子やコンポーネントの特性評価には対応しきれません。 ケースレーは、このような課題に対し、お客様からのご要求に応じた電圧レベルでの高電圧CV測定の様々なソリューションを長年ご提案し、導入実績を積み上げてきました。そこには測定技術はもちろん、高電圧を取り扱う上で必ず考慮すべき安全対策や、配線切り替えのような測定システムを運用する上での利便性を失わないための工夫も含まれています。本セッションでは、それらの各種高電圧CV測定ソリューションを総括します。

3/17(木)
13:00

新時代こそ重要!材料評価のための信頼性評価試験ソリューション

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 宮本 純一

電気的な信頼性評価は広く材料評価や部品検査などに適用できます。ケースレーは半導体試験規格に準拠しながらも、バラエティに富んだ試験装置を提供しています。その要素技術を使うと目的に応じた試験装置を組むことができます。例えばストレス・サイクル試験、高電圧破壊試験、プロセスモニタ試験などです。ここでは事例とともに試験で注意するべき技術ポイントも押さえます。品質を検証し証明する方はぜひご覧ください。

3/17(木)
14:00

SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源/電子負荷性能について

講師:テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ 宮尾 豊

ケースレーの2450型SMUと当社直流電源を使ったデモをご覧頂きながら、SMUと電源の違い、電子負荷としての使い方を分かりやすくご説明します。今後の計測器選定にぜひお役立てください。
【アジェンダ】
1.DC電源との比較説明
 ・電圧の立上り時間
 ・電流リミットの動作時間
 ・印加設定の範囲と正確性
 ・モニタ(測定)機能の範囲と正確性
2.電子負荷としての使い方

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