特長

● 製品紹介

● 市場トラブルの問題解決。高周波、エネルギー量変化ができる試験パルス
パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり / 立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。また、パルス幅の広い800ns～1000ns などのインパルスはエネルギー量が大きいため、回路へ大きな電圧変動を与えやすくなります。インパルス試験は国際規格IEC 61000-4-4で定められているファスト・トランジェント / バースト試験に比べ立ち上がり時間が高速なため、1GHz近くまでの高い周波数成分を含んでいます。このためEUTに対してノイズを印加した際に、より回路内部に侵入しやすく電子回路に影響を与えやすくなります。なお、インパルスのパルス幅により包含する周波数スペクトラムの成分および強度が異なるため、数種類のパルス幅での試験の実施をおすすめします。

● 試験結果の再現性が向上。より定量的な試験ができます
従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で試験結果の再現性が高い試験ができます。また、水銀リレー劣化時に発生する出力波形不良も無くなりました。

● 誤動作発生率の向上。試験にかかる時間を短縮できます（INS-S220のみ）
試験パルスの繰返し周期を従来品より高速化することで、製品の誤動作発生率が向上し、試験時間の短縮が期待できます。

主な仕様

		INS-S220	INS-S420
パルス設定 範囲①	パルス出力電圧	0.50kV〜0.99kV ±10%　0.01kV ステップ	ー
	パルス幅	100ns〜1000ns ±10%　50nsステップ
	繰返し周期	1ms〜999 ms ±10%　1ms ステップ
パルス設定 範囲②	パルス出力電圧	1.00kV 〜2.00 kV ±10%　0.01kV ステップ	0.50kV〜4.00kV ±10%　0.01kV ステップ
	パルス幅	50ns〜1000 ns ±10%　50nsステップ	50ns ±15%、 100ns〜1000ns ±10%　50nsステップ
	繰返し周期	10ms〜999 ms ±10%　1ms ステップ
出力電圧		0.5〜2.00kV±10％　（10Vステップ）	0.5〜4.00kV±10％　（10Vステップ）
極性		正 / 負
立ち上がり時間		3ns以下