取扱製品 Product

空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3

電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し※1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析して、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。

※1:国立大学法人 金沢大学 特許2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547 による位置検出する方法です。

メーカー

ノイズ研究所/NoiseKen

特長

  • エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
  • ノイズの発生要因・分析が手軽に簡単に確認できます。
  • 対策前後の比較が簡単に確認できます。
  • 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
  • コンパクトで持ち運びに便利です。
  • お客さま所有のスペアナや電磁界プローブをもちいてシステム構築ができます(要ご相談)

大小さまざまなサイズの測定ができます 

大型プローブも小型精密用プローブも使用できます

標準対応のスペアナドライバが充実しています


ノイズ発生要因の解析が簡単になりました

3次元表示(時間・周波数・強度)ができます


波形の同時表示機能が追加されました 新機能 Ver.3.2.0.0

リアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます


コメント機能が強化されました 新機能 Ver.3.2.0.0

対策箇所などの記録が確認できます


測定ファイルの一覧表示機能が追加されました 新機能 Ver.3.2.0.0

蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます。

仕様

周波数範囲 電磁界プローブ、プリアンプ、スペクトラムアナライザの仕様に依存
測定単位 dBμV、dBm
データ記録方式 single/Free Run/Max Hold/Max Peak Data
補助機能 保存/読み込み/エクスポート/コメント入力/ファクター再読込み/カメラ画像の上下・左右反転/カメラ画像のゴースト表示/画像の拡大・縮小
対応OS Microsoft® Windows®10/11(日本語版/英語版)

注釈
このページに記載されている製品・仕様・価格は改良等のため予告無く変更、あるいは製品製造を中止する事があります。ご購入に際しましては販売価格も含め改めて最新情報を弊社営業よりご確認下さい。

製品登録年月

2023-02

産業種別

  • 航空・宇宙開発
  • 新エネルギー
  • 電子・デバイス
  • 電気機械
  • 電気製品
  • 通信機器
  • 自動車
  • 鉄道・貨物

測定項目または機能

  • EMC試験(ノイズ試験)

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