半導体向け評価ソリューション
生産性UPに貢献!短時間で効率的な評価試験を
はじめに
省エネ需要の高まりや地球環境保全、次世代自動車の普及等を背景に注目を集めるパワー半導体。特にパワーモジュール等を中心にGaN(窒化ガリウム) やSiC(炭化ケイ素) 等の採用が本格的に進んでいます。これらパワー半導体の試験に必須なのは「直流安定化電源」です。例えば、パワーサイクル試験です。開発者にとって、パワーサイクル試験を短時間で効率的に行うことは生産性向上につながります。試験内容によって様々ではありますが、試験装置として直流電源には、「応答速度や通信速度が速い」ことが非常に重要になります。
今回は、通信処理速度の速い直流電源を使った「パワーサイクル試験」と大電流の高速立ち上げを安価に実現する「過渡熱試験」をご紹介します。
アプリケーション内容
<パワーサイクル試験>
半導体温度を再現し、エージング試験!
パワーサイクル試験では、測定した温度に応じて、電流値を制御し実車の温度変化パターンを再現します。
温度検出によるフィードバック制御を実現するためには、通信処理時間の速い直流電源が必要です。
試験には、菊水電子工業の薄型ワイドレンジスイッチング電源 PWX シリーズがオススメです。
<過渡熱試験>
大電流の高速立ち上げを安価に実現!
大電流を高速で立ち上げて、半導体の温度変化を測定します。試験の際には、数百A ~千数百A を数ms で立ち上げる必要があります。菊水電子工業の大容量直流電源PAT-T シリーズと電子負荷PLZ5-W シリーズを組み合わせることで、高速大電流を実現できます。
<多機能直流電子負荷装置PLZ-5WH2シリーズ紹介 30秒>
この記事のまとめ
この記事に関する参考資料
薄型ワイドレンジ可変スイッチング電源PWXシリーズ(2017061KPRI61a).pdf
多機能直流電子負荷装置PLZ-5W/5WZシリーズ(202104PDF111).pdf