加速する！電子デバイス評価試験の未来！
急速温度変化チャンバーに20℃/分の新モデルが登場
はじめに
エレクトロニクス、自動車市場などで使われている国際規格IEC 60068-2-14試験Nb（定速温度変化試験）が改正され、より厳しい温度変化速度20℃/分の試験が追加されました。この流れを受けて、昨年、エスペックは急速温度変化チャンバーにハイパフォーマンスモデルをラインナップしました。実装基板だけでなく、パワー半導体の温度サイクル試験のニーズにもマッチしています。皆さまの課題解決の一助となれば幸いです。
登場人物紹介
半導体評価部門のCさんからお問い合わせのメールが届きました…
後日、半導体評価部門のCさんを訪ねました
こんにちは。遠藤科学のEです。別部署のA様から半導体部門の試験でお困りごとがあるとお聞きしています。
こんにちは、エスペックのSです。日頃の試験において抱えているお悩みをお伺いしてもよろしいでしょうか？
初めまして、半導体評価部門のCです。最近の悩みはこんな感じです。
なるほど、電子デバイスに関わるみなさんが直面しているお困りごとかと思います。そんなお悩みを一掃するために去年2月エスペックより急速温度変化チャンバーTCCにハイパフォーマンスモデル「TCC-151W-20」が登場しました！
それぞれのお悩みに、このモデルがどのようにアプローチできるのかご紹介いたします。
冷熱衝撃装置で、ECU基板の温度サイクルによる信頼性評価をしているのですが･･･
【 現状 】
・ 社内規格で壊れないかどうかを確認している。
・ 現在は冷熱衝撃装置を使用している。
・ 条件：-40℃から125℃、15℃/分程度の温度勾配。
・ しかし「壊れる、壊れない」の結果がランダムになってしまい、過程が良く分からない。
・ 試料の量も位置も問題はない。
試料温度を測ってみたことはありますか？現在使用されている冷熱衝撃装置は、温度変化中の温度は成り行きのため、試料に対して熱ストレスがかかりすぎることがあります。
試料温度は制御していませんでした･･･ ！
急速温度変化チャンバーTCC-151W-2で試料温度制御をされてみるのはいかがでしょうか？試料にかかる熱ストレスが均一になり、試験の再現性も高まるとおもいます。
JESD22-A104など、デバイス単体の規格試験の必要性が高まっているのですが、なかなか内容がむずかしくて･･･
【 現状 】
・ エスペックではない他社装置で試料温度制御をしている。
・ しかし、試料が変わると（例：試料A→試料B）、試験規格の温度プロファイルに試料温度が追従しない。
・ 毎回、槽内温度の変化率を変えて設定を合わせこむ予備試験が必要で、手間と時間がかかっている。
毎回となると相当大変ですね･･･。槽内温度ではなく、試料の温度で温度変化を制御できれば、正確に規格プロファイルを追従させることができ、お悩みが解決すると思います！
エスペックさんの急速温度変化チャンバーではそれができるのでしょうか？
はい。試料温度制御とランプ運転制御を精密に行うことが可能です。詳しくはこちらのカタログをご覧ください。
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万が一、機器トラブルが発生したときにも国内メーカーでアフターサポートが充実したエスペックさんであれば安心してご使用いただけます。遠藤科学にもエスペック製品の講習を受けたサービスマンが多数在籍しているので対応することが可能です。
製品の信頼性の確保のためにも、TCCの情報を部署内で共有してみますね！
その日の帰り道のEさんとSさん
そういえば、エスペックさんの新しいテストラボが完成してからそろそろ1年くらい経ちますね。すごいとは耳にしているんですけど、僕はまだ足を運べてないんですよね。
そうなんですか！よかったらご案内するので見学に来てください！驚かれると思います。自動車業界大注目の施設なのでお楽しみに。
次回、次世代モビリティに挑む全てのみなさま必見！
2月25日配信！
出典：エスペックHP
この記事に関する参考資料
カタログ ： 急速温度変化チャンバー TCC-151W-20_LEAF No.20241001_T10E06L00
急速温度変化チャンバーTCC の製品詳細ページ
https://www.endokagaku.co.jp/catalog/product/espec_tcc/
〇 ENDO取り扱い 恒温（恒湿）器 一覧は こちら をご覧ください。
