セミナーSeminar

セミナー 光干渉法を原理とする膜厚測定装置を使いこなすためのノウハウ

メーカー
大塚電子
開催日
2026/02/19
開催方式
Web

〈 概要 〉

光干渉式の膜厚計について、測定がうまくいかない、干渉が見えているのに膜厚がうまく出ない、そもそも測定がうまくいっているかわからない、ということはありませんでしょうか?光干渉法の原理から測定例、よくある測定の質問、測定のコツなど光干渉法を原理とする膜厚測定装置をより良く使っていただく情報をご紹介致します。
※本セミナーは2025年6月に配信したものを再配信いたします。

 

〈 お申込み 〉

      • 開催日時:2026年2月19日(木) 15:00~16:00 (開始10分前よりアクセス可能です)
      • 申込期限:2026年2月19日(木) 10時
      • 開催方式:Microsoft Teams
      • 参加費:無料
        ※先着順のため、定員に達した場合は受付を終了いたします。

このページに掲載された情報は最新の情報ではない可能性がございます。
最新の情報は上のボタンから公式ページをご覧ください。

セミナー 一覧