セミナーSeminar

〈 概要 〉

光を用いた各種分析装置を開発してきました大塚電子が、先端技術をサポートする分析装置と、その測定技術、応用例などについてWebセミナーを開催いたします。ぜひ、ご参加ください。※本セミナーは2024年3月に配信したものを再配信いたします。

〈 内容 〉

光干渉式の膜厚計について、測定がうまくいかない、干渉が見えているのに膜厚がうまく出ない、そもそも測定がうまくいっているかわからない、ということはありませんでしょうか？
光干渉法の原理から測定例、よくある測定の質問、測定のコツなど光干渉法を原理とする膜厚測定装置をより良く使っていただく情報をご紹介致します。

〈 お申込み 〉

• • • 開催日時：2025年6月18日（水） 15:00～16:00 （開始10分前よりアクセス可能です）
      ※ お申込は6月18日（水）10時で締め切らせていただきます。
    • 開催方式：Microsoft Teams
    • 参加費：無料

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