特長

● ZEISS XRM：豊富なメリットをもたらすアーキテクチャ
ZEISS Versa XRMは、2段階拡大プロセスを用いた独自のRaadにより、長い作業距離でも高分解能を実現します。これにより、in situ チャンバー内の試料を含む広範なサイズの試料を効率的に研究することができます。
まず、従来のマイクロCTと同様に、幾何学的拡大ステップでは、シンチレータによってX線を可視光に変換し、次いで光学倍率を拡大します。ZEISS Versa XRMソリューションでは、幾何学的拡大への依存度を減らすことにより、長い作動距離でも最高500nmのサブミクロン分解能を維持できます。

● 正確な分解能を実現
ZEISS Versa XRMソリューションは、様々な距離、試料サイズ、環境において正確なサブミクロン空間分解能を維持しつつ、パワフルな3D X線イメージングを実現します。ZEISS XRMでは分解能を、顕微鏡性能の最も重要な指標である実際の空間分解能によって規定しています。
空間分解能とは、イメージングシステムが物体を分解できる最小間隔を指します。一般的には、線の間隔を段階的に狭めながら、標準化された分解能テストターゲットをイメージングして測定します。X線顕微鏡の空間分解能は、X線源のスポットサイズ、検出器分解能、幾何倍率、および振動、電気、熱安定性などの重要な特性を反映します。「ボクセル」、「スポットサイズ」、「細部分解能」、「公称分解能」などの用語だけでは、システムの性能を完全に表すことはできません。

● 優れたコントラスト
イメージングでは特徴を視覚化および定量化するためには、詳細を明らかにする優れたコントラストが必要になります。ZEISS Versa XRM は、低原子数（低Z）材料や軟組織、ポリマー、琥珀に内包された生物化石、その他低コントラストの材料など、測定が極めて難しい材料であっても、柔軟でコントラストの高いイメージングを実現します。