特長

● 妥協のない最高の分解能
X線コンピュータトモグラフィーには、2つの大きな課題があります。1つはサイズが大きく作業距離が長い試料の分解能を保持すること、もう1つは分解能とX線強度を最大化してスループットを向上させることです。こうした課題に対処するには、画期的なイノベーションを始め、最適化された設計とシステムの統合が欠かせません。ZEISS VersaXRM 730 は、2段階拡大技術と高強度X線源技術を統合することでこれを解決します。

● 高強度X線により、スループットが最大2倍に
3D X線画像は、一連の2D X線画像から作成されるため、イメージングの際は試料を一定の露光時間、X線光子数で露出する必要があります。X線強度が高いほど投影ごとの露光時間が短くなり、全体としてトモグラフィースキャンにかかる時間が短縮されます。25Wの高出力源を搭載した ZEISS VersaXRM シリーズのプラットフォーム は、定評ある Versa サブミクロン分解能を損なうことなく、さらに高速なスキャンを実現します。

● ZEISS X線顕微鏡が研究にもたらすメリット
ZEISS VersaXRM は、2段階拡大技術により、様々な試料サイズと種類に対して、長い作動距離でのサブミクロン分解能のイメージング（RaaD）が可能です。従来のmicroCTと同様に、画像はまず幾何学的に拡大されますが、投影された画像はシンチレータによって、X線像から可視光源に変換されます。その可視光源がさらに光学対物レンズによって拡大され、CCD検出器に届くという仕組みです。