電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
ZEISS Sigma 360
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コア施設から選ばれる直感的なイメージング
・セットアップからAIによる結果取得まで、専用のガイドに従って操作するだけの直感的なイメージングワークフローをご体験ください。
・1 kV以下でも優れた解像度と最適なコントラストを実現
・VPイメージングにより、非導電体の非常に困難な条件でも優れた結果を取得可能
特長
● 直感的なイメージングワークフロー ~セットアップからAIによる結果取得まで~
- 初心者でも専門知識に基づいた結果取得が可能です。使いやすく覚えやすいワークフローにより、ナビゲーションから後処理までの各ステップが効率化され、高速イメージングを実現します。また、トレーニングに必要な時間も短縮できます。
- ZEISS SmartSEN Touchのソフトウェア自動化によって、ナビゲーション、パラメータ設定、画像取得を開始できます。
- ここで、タスク固有のツールキットを備えた、後処理に最適なZEN coreが役立ちます。最も推奨されているのは、機械学習に基づく画像のセグメンテーションが可能なAI Toolkitです。Connect Toolkitではマルチモーダル実験を組み合わせられます。また、Materiales Appsによる微細構造、粒径、層厚の解析も可能です。
● 1kV以下でも強みを発揮 ~優れた解像度と最適なコントラスト~
- イメージング・解析パフォーマンスの鍵となるのは光学カラムです。ZEISS Gemini 1 電子光学系を搭載したSigmaは、特に低加速電圧において、あらゆる試料に対して優れた分解能を発揮します。
- Sigma 360の低電圧分解能の仕様は、1.9nmで500Vになりました。色収差を最小限に抑えることで、1kVの分解能が10%以上向上しています。
- 低真空モードでの後方散乱検出や観察が困難な試料でも、これまで以上にイメージングが容易になりました。
● 非常に困難な条件でもVPイメージングを実現 ~解析・イメージング用NanoVP liteモード~
- 新登場にNanoVP liteモードと新しい検出器が、5kV以下における非導電体からの高品質データの取得を簡素化します。
- 強化されたイメージングとEDS解析により取得時間が短縮され、表面感度の高い情報と、高速EDSマッピングのための一次ビーム電流が提供されます。
- aBSD1(環状後方散乱電子検出器)や次世代C2D(カスケード電流検出器)など新しい検出器を使用することで、低加速電圧でも優れたイメージングが可能です。
メーカー製品URL:
https://www.zeiss.com/microscopy/ja/products/sem-fib-sem/sem/sigma.html
情報提供元: カールツァイス株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。
