超薄膜スクラッチ試験機
CSR5100

レスカ

薄膜の密着強度を測定します。
JIS R 3255に準拠した測定が行えます。
DLC・ITO・ZnO・SiO・SiN等の評価が可能です。

特長

● 膜厚µm以下の超薄膜の密着強度評価が可能　※ 膜厚10nmの測定実績有
● サンプルを加熱しての加熱環境下での評価が可能
● レンズ等の曲面測定が可能
● 顕測定部位を事前に顕微鏡観察により位置設定が可能

情報提供元: 株式会社レスカ

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