非接触 表面粗さ・形状測定器
TopMapシリーズ
ポリテックジャパン
白色干渉計を利用した広範囲の表面粗さ・形状測定
- 大きな垂直方向測定レンジ（100mm）
- 広い測定範囲と短い測定時間
特長
● TopMap Micro.View
TopMap Micro.View は、操作性に優れたコンパクトな卓上型光学式形状測定器です。
製造や研究の分野において、高い精度で設計された表面の粗さや微細構造などの詳細を検査するコストパフォーマンスに優れた品質を管理するための測定器です。
● TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View+は、モジュール式設計のあらたな次元の光学式三次元形状測定器であり、表面仕上げと微細構造に関する最も困難な分析タスクを最高の精度で確実に測定します。最新のフォーカスファインダおよびフォーカストラッカを備えており、あらゆる状況で表面にフォーカスを合わせます。完全に電動化されたサンプル位置決めステージにより、スティッチングおよび自動化を実現します。
● TopMap Pro.Surf
迅速かつ正確な3D表面の特性評価に最適です。TopMap Pro.Surfの面積測定により、ワークピースの表面を検査するときに詳細を見逃さないようにしています。 広い測定範囲と短い測定時間がTopMap Pro.Surfの特長です。
● TopMap Pro.Surf+
最新のオールインワンシステム。白色光干渉計にクロマティック共焦点センサを搭載することにより、形状偏差と粗さを一つのシステムによって測定できます。Pro.Surf+は広範な面積の表面形状のナノメートル分解能測定を実現します。
メーカー製品URL:
https://www.polytec.com/jp/surface-metrology/products/3d-surface-profilers
情報提供元: ポリテックジャパン株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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