サブミクロン可視化インサートシステム
CVS-Submicron
パーティクルラボ
サブミクロンの微粒子を目視で手軽に検証可能
レーザー光を照射せずにサブミクロンを可視化する最新モデル。独自の光学設計により光源単体で目視によるサブミクロンの異物観察を実現。出射部と撮影部を最小化し、装置内へ直接アプローチを可能にし局所クリーン化が進んだCR環境への対応も万全。
特長
● 製品紹介
● 発塵をスマホやデジカメで手軽に録画保存
● レーザー光照射ではないので目視観察可能
● 光源とカメラヘッドで装置内部へ取付可能
● 迷光を抑え指向性を極めた驚きの可視化
● 最新画像処理で世界最高の可視化を実現
● プレゼンに最適な比較動画編集等の多数機能
主な仕様
| 光源タイプ | 光源色 | 装置内への設置 | 対象粒径 | 制限 | 推奨シーン | |
| CVS-Submicron | LDP | 緑色光 | ○ | 粗大粒子～ ≧0.1µm | ― | 半導体・2次電池など |
| CVS-Laser | 半導体レーザー | 赤色光 | △ | 粗大粒子～ ≧0.1µm | クラス4規程 | 半導体・フィルムなど |
| CVS-LED | LED | 緑色光 | × | 粗大粒子 | ― | 人からの発塵など |
メーカー製品URL:
https://particlelabs.tech/product_contami-system/
情報提供元: 株式会社パーティクルラボ
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。