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パーティクル可視化レーザーシステム
CVS-Laser

パーティクルラボ

クラス4のレーザーにより極小異物の可視化を実現しました。最新の画像処理と組み合わせて光学式パーティクルカウンターの下限値の100ナノレベルを可視化。直進性が極めて高く、迷光の発生が最大まで抑制され、さらに光源の波長帯が狭いのでフィルター処理により外乱光を最大限カットできます。

特長

● 0.1µまで可視化できる高性能システム
● 背景が白色でも可視化できる波長特性
● 高寿命を誇る半導体レーザーモデル
● 光学系はお客様で自由にカスタム可能
● PIV気流可視化にも最適な光源を採用

主な仕様

光源タイプ 光源色 装置内への設置 対象粒径 制限 推奨シーン
CVS-Submicron LDP 緑色光 粗大粒子~ ≧0.1µm 半導体・2次電池など
CVS-Laser 半導体レーザー 赤色光 粗大粒子~ ≧0.1µm クラス4規程 半導体・フィルムなど
CVS-LED LED 緑色光 × 粗大粒子 人からの発塵など

メーカー製品URL:
https://particlelabs.tech/product_contami-system/

情報提供元: 株式会社パーティクルラボ

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
 また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。