パーティクル可視化レーザーシステム
CVS-Laser
パーティクルラボ
クラス4のレーザーにより極小異物の可視化を実現しました。最新の画像処理と組み合わせて光学式パーティクルカウンターの下限値の100ナノレベルを可視化。直進性が極めて高く、迷光の発生が最大まで抑制され、さらに光源の波長帯が狭いのでフィルター処理により外乱光を最大限カットできます。
特長
● 0.1µまで可視化できる高性能システム
● 背景が白色でも可視化できる波長特性
● 高寿命を誇る半導体レーザーモデル
● 光学系はお客様で自由にカスタム可能
● PIV気流可視化にも最適な光源を採用
主な仕様
光源タイプ | 光源色 | 装置内への設置 | 対象粒径 | 制限 | 推奨シーン | |
CVS-Submicron | LDP | 緑色光 | ○ | 粗大粒子~ ≧0.1µm | ― | 半導体・2次電池など |
CVS-Laser | 半導体レーザー | 赤色光 | △ | 粗大粒子~ ≧0.1µm | クラス4規程 | 半導体・フィルムなど |
CVS-LED | LED | 緑色光 | × | 粗大粒子 | ― | 人からの発塵など |
メーカー製品URL:
https://particlelabs.tech/product_contami-system/
情報提供元: 株式会社パーティクルラボ
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。