特長

● 光源に可視光を使用している為、小角X線散乱（SAXS）や、小角中性子散乱（SANS）装置と比べ、より大きな構造（マイクロメートルオーダー）の評価が可能です。偏光板を用いたHv散乱測定からは、光学異方性の評価や結晶構造の解析ができ、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの評価や、配向特性の解析が行えます。

● 測定項目

• • ポリマーブレンドの相分離過程
  • ポリマー結晶化過程
  • 結晶サイズの算出、結晶成長速度の算出
  • 配向状態
  • 凝集過程
  • 熱硬化過程
  • 温度変化時の構造変化
  • 延伸による構造変化　※ 別途相談
  • 紫外線による硬化過程　※ 別途相談

主な仕様

測定原理	小角光散乱法
光源	半導体レーザ （波長785nm）
検出器	CMOSカメラ
測定範囲（理論値）	球晶径 1.3～270µm 相関長 0.1～100µm
ダイナミックレンジ	120db以上（HDR機能使用）
測定散乱角度	0.33°～45°（カメラ長に依存）
	カメラ長 50mm、150mm、300mm	角度範囲 2°～45°、0.67°～18.4°、0.33°～9.5°	角度分解能 0.3°、0.1°、0.05°
取得像	Hv光散乱像、Vv光散乱像
測定スポット	約1mm
ビームストッパー	Φ3mm
測定時間	10msec～ ※
電源	AC100-240V　75VA
寸法	W350×D500×H760（mm）
データ処理部	ノートPC（Windows10）

※ HDR機能使用時は100msec～
※ HDR：「High Dynamic Range Imaging」の略。 露出レベルの異なる複数枚の写真を合成する技術