ラインスキャン膜厚計®
インラインタイプ
大塚電子
分光干渉式を採用
フィルムの全面検査を実現
特長
● ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現
● 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
● 高速・高精度に測定が可能
● バタつきに強い光学系を採用
● 幅広のサンプル（TD方向に最大10m測定可能）
● ハード・ソフト共にオリジナル設計
● 製品紹介
主な仕様
| 膜厚範囲 | 0.1～300 µm |
| 測定幅 | 500 mm～最大10 m |
| 測定間隔 | 1 ms～ |
| 装置サイズ（W×D×H） | 81×140×343 mm |
| 重量 | 4 kg（ヘッドのみ） |
| 最大消費電力 | AC100 V±10% 125VA |
メーカー製品URL:
https://www.otsukael.jp/product/detail/productid/128
情報提供元: 大塚電子株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。