ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム
ELSZneo
大塚電子
ELSZseriesの最上位機種です
特長
● 希薄から濃厚溶液 (~40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能
● 多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能
● 平板状サンプルのゼータ電位を高塩濃度下で測定が可能
● 動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能
● ゲル試料を複数点測定することによりゲルの網目構造や不均一性の評価が可能
● 製品紹介
主な仕様
測定原理 | ゼータ電位 | 電気泳動光散乱法(レーザードップラー法) |
粒子径 | 動的光散乱法(光子相関法) | |
分子量 | 静的光散乱法 | |
光学系 | ゼータ電位 | ヘテロダイン光学系 |
粒子径 | ホモダイン光学系 | |
分子量 | ホモダイン光学系 | |
光源 | 狭帯域半導体レーザー | |
検出器 | 高感度APD | |
セルユニット | 標準フローセルユニット(ゼータ電位・粒子径) | |
粒子径セルユニット(粒子径) | ||
粒子径多角度セルユニット(粒子径・分子量) | ||
温度 | 0 ~ 90℃ (グラジエント機能あり) | |
電源 | 100V ± 10% 250VA | |
寸法(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
重量 | 22 kg |
● 測定範囲
ゼータ電位 | No effective limitations(実効的な上限なし) |
電気移動度 | -2×10⁻⁵ ~ 2×10⁻⁵ cm²/V・s |
粒子径 | 0.6 nm ~ 10µm |
分子量 | 340 ~ 2×10⁷ |
● 対応範囲
測定温度範囲 | 0 ~ 90℃ |
測定濃度範囲 | ゼータ電位:0.001~40% |
粒子径:0.00001 (0.1ppm) ~ 40 % ※1 |
※1 (標準粒子: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)
メーカー製品URL:
https://www.otsukael.jp/product/detail/productid/136
情報提供元: 大塚電子株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。