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画像測定システム
NEXIV VMZ-Sシリーズ

ニコン

さまざまなサンプルをカバーする汎用モデル
専用光学系とTTLレーザーAFを標準搭載。サンプルサイズに応じてストロークの異なる3モデルをラインアップしています。多様な測定ニーズに対して高速·高精度な測定を実現します。

特長

● 6種類の高NA光学ズームヘッド
専用設計された6種類の高NA光学ズームヘッドから目的に応じてお選びいただけます。

● TTL(Through The Lens)レーザーAF
多用途に対応する画像AFに加え、高精度・高速高さ測定も可能なTTL レーザーAFを標準搭載しています。

● 多彩な照明方法
サンプルに合わせた照明条件の設定が可能。難しい形状でも正確にエッジを検出します。

● サーチ機能
サンプルの置き方や部品の位置ズレを自動補正。スムーズな連続自動測定を実現します。

主な仕様

VMZ-S3020 VMZ-S4540 VMZ-S6555
ストローク(X,Y,Z)
(タイプTZ低倍対物使用時)
300×200×200 mm
(250×200×200 mm)
450×400×200 mm
(400×400×200 mm)
650×550×200 mm
(600×550×200 mm)
最小表示単位 0.01 µm
被検物最大質量 20kg(精度保証値:5kg) 40kg(精度保証値:20kg) 50kg(精度保証値:30kg)
測定精度(EUX ,MPE / EUY ,MPE 1.2+4L/1000 µm ※
測定精度(EUXY ,MPE 2.0+4L/1000 µm ※
測定精度(EUZ ,MPE 1.2+5L/1000 µm ※
カメラ 白黒 / カラー 1/3型CMOS

※ Lは測定長さ(mm)

メーカー製品URL:
https://industry.nikon.com/ja-jp/products/cnc-video-measuring-systems-nexiv/nexiv-vmz-s/

情報提供元: 株式会社ニコン

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
 また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。