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システム実体顕微鏡
SMZ1270i / 1270

ニコン

広いズーム範囲の全体にわたって極めて鮮明な観察像
部品検査から研究開発に至るまで 、多様なニーズにお応えします。

特長

● 低倍率での広い視野
最低倍率での視野を35mmに拡大。直径35mmの被検物や包埋サンプル全体が簡単に観察できます。

● 高精細な観察像
非常に優れた対物レンズPlan Apo WFシリーズとED Plan WFシリーズが選択可能。低倍から高倍のズーム倍率範囲すべてで、色収差の少ないクリアで明るい像が得られます。

● エルゴノミック設計
自然な姿勢で楽に観察できるよう、角度が変えられる傾角鏡筒をご用意。観察者の体格に合わせて最適なアイレベルが得られます。

主な仕様

SMZ1270i / SMZ1270
光学系 平行系(ズーム変倍式)
ズーム比 12.7:1
ズーム範囲 0.63 – 8×(クリックストップ:0.63 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8x)
総合倍率
(同軸落射照明装置装着時)
3.15 – 480×(15 – 540×)
※ 接眼および対物 / 補助対物レンズの組み合わせによる
鏡筒 双眼鏡筒、三眼鏡筒、傾角三眼鏡筒
接眼レンズ 10×、15×、20×、30×
対物レンズ 0.5×、0.75×、1×、1.5×、2×

メーカー製品URL:
https://industry.nikon.com/ja-jp/products/industrial-microscopy/stereo-microscope-zoom/smz1270-smz1270i/

情報提供元: 株式会社ニコン

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
 また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。