画像測定システム
NEXIV VMZ-H3030

ニコン

厳密な品質が要求される測定用途に対応
NEXIVシリーズ最高の測定精度を実現。半導体部品や精密金型など、より厳しい品質管理を要求される場面で威力を発揮します。

特長

● 5種類の高NA光学ズームヘッド
専用設計された5種類の高NA光学ズームヘッドから目的に応じてお選びいただけます。

● TTL（Through The Lens）レーザーAF
多用途に対応する画像AFに加え、高精度・高速高さ測定も可能なTTL レーザーAFを標準搭載しています。

● 多彩な照明方法
サンプルに合わせた照明条件の設定が可能。難しい形状でも正確にエッジを検出します。

● サーチ機能
サーチ機能により、サンプルの置き方や部品位置ズレの自動補正が可能。スムーズな連続自動測定を実現します。

	VMZ-H3030
ストローク（X,Y,Z）	300×300×150 mm
最小表示単位	0.01 µm
被検物最大質量	30kg（精度保証値：10kg）
測定精度（E_UX,_MPE / E_UY,_MPE）	0.6+2L/1000 µm ※
測定精度（E_UXY,_MPE）	0.9+3L/1000 µm ※
測定精度（E_UZ,_MPE）	0.9+L/150 µm ※
カメラ	白黒1/3″型CCD、カラー1/3″型CCD ※ カラーカメラはタイプ1, 2, 3のみ対応

※ Lは測定長さ（mm）

情報提供元: 株式会社ニコン

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
　また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。