画像解析式粒度分布測定ソフトウェア
Mac-View
マウンテック
様々な認識ツールを組み合わせ、あらゆる粒子の計測・解析を実現
SEMやTEM等で撮影した画像を読み込み、対象粒子を認識させることにより、自動的に粒度分布の算出や粒子形状の数値化を行います。複雑な形状の粒子や凝集粒子などもペンタブレットを用いた手動解析ツールを使用することで、容易に粒子の認識が可能です。
特長
● 凝集粒子の1次粒子径の解析
従来困難であった凝集粒子の1次粒子径の評価が可能です。
● ナノ粒子の評価
スケール情報さえあれば粒子径問わず解析が可能です。
● 多角的な解析・評価
粒度分布の自動計測かつ粒子形状(円形度やアスペクト比など)の解析が可能です。また、得られるデータが豊富であり、凝集粒子の1次粒子評価が可能です。
● 操作性容易
特別な知識は不要で操作性が容易なため、作業者の習熟度を問いません。
● 高度な設備投資は不要
画像(jpeg、bitmap)さえご用意頂けば、PCにソフトウェアをインストール後、直ぐに使用が可能です。
主な仕様
【Mac-View Version.5 仕様】
計測機能 | 面積・周囲長・長径・短径・最大長・最小長・Heywood径・周長円相当径・円形度係数・アスペクト比・形状係数1~3・Feret径・Martin径・Krummbein径・二軸平衡径・二軸幾何平均径・二軸調和平均径・長さ 他 |
解析機能 | 粒形%・ON/PASS解析・体積 / 個数 / 長さ変換・ピークデータ解析・要約データ解析・粒形区分変換・ふるい上下変換・形状係数解析・データ合成・データグループ化 |
その他機能 | 各種グラフ表示機能・各種プリント出力機能・テキスト出力機能・画像出力機能 他 |
動作環境 | ● Microsoft Windows 7 / 8 / 10が動作するPC/AT互換機(32 / 64bit両対応) ※ Windows7 / 8でご使用の場合は、Windows Updateで最新の更新プログラムをインストールして下さい。 ● ライセンス認証用USBハードウェアドングルキーに使用可能なUSBポートを搭載したもの(必須) ● スキャナ(TWAIN対応のもの)およびオプションの液晶ペンタブレットを接続する場合、USBポート等のインターフェースが必要 ● ディスプレイ:Full HD解像度(1,920×1,080)までのディスプレイ ● CPU:OSの要求する試用に準ずる(1GHz以上のCPU) ● メモリ:2GB以上を推奨 ● 内蔵ハードディスクに最低200MB以上の空き領域が必要 ● インストール時にCD-ROMドライブが必要 |
対応規格 | JIS Z8827-1に基づく |
メーカー製品URL:
http://www.mountech.co.jp/product/mountech_mac-view
情報提供元: 株式会社マウンテック
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。