粒子径分布・粒子形状測定装置
SYNC

レーザ回折・散乱法と動的画像解析法の両立

特長

● 粒子径分布測定と画像解析による粒子形状評価を同時に実施（特許技術）

● 幅広い測定範囲を可能にした3本レーザ光学系

● 測定結果を裏付ける画像解析による形状評価

● 数十の粒子形状の評価が可能
円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、円形度、アスペクト比、凹凸度など

● 微量の異物、粗大粒子および凝集体を検出

型式	SYNC
測定原理、測定範囲	レーザ回折・散乱式（LD）：0.02～2000µm 動的画像解析式（DIA）：5～2000µm
レーザ（LD）	半導体レーザ波長780nm、出力3mW 3本搭載
画像解析（DIA）	5.2メガピクセル（2560×2048px）、最大60fps
ISO準拠	ISO13320：レーザ回折・散乱式（LD） ISO13322-2：動的画像解析式（DIA）

情報提供元: マイクロトラック・ベル株式会社

・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
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