電磁膜厚計
LE-373
ケツト科学研究所
電磁膜厚計の中位モデル
特長
● 電磁式プローブ付属
● 測定範囲 0～2500µm
● データメモリ39000点、統計計算機能
主な仕様
| 測定方式 | 電磁誘導式 |
| 測定対象 | 磁性体上の非磁性被膜 |
| 測定範囲 | 0～2500µm |
| 測定精度 | 50µm未満：±1µm、50µm以上1000µm未満：±2％、1000µm以上：±3％ |
| 分解能 | 100µm未満：0.1µm、100µm以上：1µm |
| データメモリ数 | 約39,000点 |
| プローブ | 一点接触定圧式（LEP-J） |
| 電源 | 電池1.5V（単3アルカリ）×4 |
| 寸法・質量 | 75(W)×145(D)×31(H) mm、0.34kg |
メーカー製品URL:
https://www.kett.co.jp/products/le-373/
情報提供元: 株式会社ケツト科学研究所
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