微粒子可視化システム
Particle Viewer PV2 series
カトウ光研
粒子の発塵から浮遊、堆積、再飛散までを可視化、清浄度改善の作業効率が大幅に上がります。赤色レーザー光源で、明るい環境でも粒子像を捉えて撮影が可能です。業界最小最軽量、高い可搬性でどこでも設置可能。異物が課題となる環境を改善につなげます。
特長
● 作業環境の微粒子をひと目で掌握 ~ISO14644-17対応~
● 可視化事例|FFUからの落下塵 0.3マイクロを可視化
Particle Viewer PV2 seriesにより、微粒子の全プロセスを見逃すことはありません。発塵から浮遊、堆積、再飛散まで非接触でエリアを評価し、各プロセスを可視化します。
作業環境に浮遊する微粒子の量はどのくらいか?異物はどこから流入してくるのか?また、発塵源はどこになるのか?適切な改善策を立てることができます。清浄度改善の作業効率を高め、より良い作業環境を実現します。
● 背景が明るくても”同化せずに微粒子可視化”
室内照明で使用される白色光のスペクトルは広範囲に分布します。微粒子可視化システムParticle Viewer PV2 seriesの光源は、可視化性能を向上させるため、室内照明のスペクトル分布とは大きく異なる”赤色レーザー光源”を初めて採用しました。照明が消せない環境や白い壁が背景といった条件でも、粒子像が同化せず撮影ができます。
● リアルタイム画像処理で微粒子をクリアに可視化
リアルタイム画像処理技術で、超高感度の可視化を実現。見えにくい微粒子をクリアに表示します。「スルー」「軌跡」「強調」の3モードの切り替えで、現象に応じた最適な可視化が可能です。また、疑似カラーで表示することで、浮遊する粒子の挙動をより分かりやすく把握できます。画像処理の内容、カメラ設定はファイルで保存・読み込みができ、撮影パターンに応じた一貫した処理が簡単に行えます。
● 浮遊する微粒子をカウント(計測機能)
画像から粒子数をカウントして、時系列グラフと同期再生
オフラインの計測機能として、画像から微粒子の数をカウントできます。カウントした微粒子を時系列のグラフで表示して、現象動画と同期再生が可能です。発塵のタイミングを簡単に分析できます。
主な仕様
光源 | 赤色半導体レーザー光源 |
波長 / 発振形態 | 638nm / CW(Continuous wave:連続発振) |
発振波長 | 520nm(±5nm:グリーン) |
レーザー照射角度可変 | レーザーシート照射角度可変ユニット:「Angle Unit」付属 |
保護メガネ | 対応波長:638nm(OD4:1/10000減衰) |
光学フィルター | 透過波長:638nm(半値全幅10nm) |
メーカー製品URL:
https://www.kk-co.jp/products/particle/
情報提供元: カトウ光研株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。