簡易高速分光エリプソメーター
alpha 2.0

ジェー・エー・ウーラム・ジャパン

シンプルな構成でリーズナブルな簡易分光エリプソメーター

特長

● alpha 2.0 は、薄膜の膜厚や屈折率の日常的な測定に適した手頃な価格の分光エリプソメーターです。分光エリプソメトリー技術を活かしながらalpha 2.0 を簡単にご使用いただくために、コンパクトな設置面積とシンプルなデザイン、そして使いやすさを重視して設計されています。

● 簡単なボタン操作、高性能なソフトウェアにより慣れていない方でも安心して使用できます。

● 実績のある分光エリプソメトリー技術が、他の技術よりもはるかに高い精度の膜厚と光学定数を提供します。

● 誘電体・半導体・有機物などあらゆる物質を測定できます。

情報提供元: ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社

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