特長

● ジャンパ抵抗器の検査時間を最大76％短縮：ジャンパ抵抗測定支援機能
ジャンパ抵抗（ゼロオーム）など100 mΩ以下の検査で、時間のかかる高精度レンジをスキップ。代表条件で約76%の時間削減。
例：100 mΩのジャンパ抵抗（ゼロオーム抵抗）を検査
コンパレータの設定：上限値 100 mΩ、下限値 50 mΩ 測定器設定：測定スピード FAST、ディレイ（印加開始から測定までの時間）：0 ms

● 選別・ランク分け工程の効率を向上：BIN測定機能（RM3542C-3のみ）
複数の判定基準で測定結果を0〜6カテゴリに区分。合否だけでなくランク分けが必要な量産検査の仕分けをシンプルにします。

● 検査信頼性を高め、テーピング工程の検査判定と搬送処理を効率化：ΔR機（RM3542C-3のみ）
連携した2台の測定結果から抵抗値の変化率（ΔR）を算出・自動比較し、しきい値に基づいて不良判定します。外部演算を要さず、工程間比較をライン内で完結できます。

● 柔軟な積分時間設定とレンジ最適化で、生産効率と高精度・安定測定を両立
各レンジで積分時間を個別設定。FAST 0.9 ms（最速）からSLOWの高確度まで最適化。3 Ω / 300 Ω等の中間レンジ採用でS/N改善とばらつき低減を支援。
さらにフローティング設計で生産ラインのようなノイズの多い環境でも安定測定を実現します。

● 低ストレス測定でデバイスの特性変化や損傷を防ぎ、高信頼性測定を実現
測定ストレスの主要因である印加電圧を≤5 Vに制限可能。接触改善電流をH/L端子側で交互に印加して電極表面を整えつつ、突入電流ピークを抑制。0201や特性変化の大きいフェライトビーズにも配慮。
【動作条件】LOW POWER：ON もしくは 印加電圧制限機能：ON にて、接触改善機能をパルス設定

● 接触改善＋コンタクト監視で、誤判定リスクを大幅に低減し、高い検査信頼性を確保
測定前の接触改善（17 / 25 / 35 / 50 mA）で接触を安定化。検査中はコンタクトチェックで状態を常時監視し、接触起因の誤判定やライン停止リスクを抑制。

主な仕様

抵抗測定レンジ	[Low Power OFF時] 100 mΩ（最大表示120.0000 mΩ, 分解能0.1 µΩ）※ 〜100 MΩレンジ（最大表示120.0000 MΩ, 分解能100 Ω）, 16レンジ切替え ※ 10 mΩ（最大表示12.00000 mΩ, 分解能0.01 µΩ）レンジ追加（RM3542C-3）[Low Power ON時] 1000 mΩ（最大表示1200.000 mΩ, 分解能1 µΩ）〜1000 Ωレンジ（最大表示1200.000 Ω, 分解能1 mΩ）, 6レンジ切替え
測定確度	[100mΩレンジ, Low Power OFF, SLOW時] ±0.015 % rdg. ±0.002 % f.s. [1000Ωレンジ, Low Power OFF, SLOW時] ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. （最高確度）
測定電流	[100mΩレンジ時] DC 100mA〜[100MΩレンジ時] DC 100nA
開放端子電圧	DC 20 V max. 印加電圧制限機能ON時：DC 5 V max.
測定時間 （Low Power OFF時）	[100Ω, 300Ω, 1000Ωレンジ時] FAST 0.9 ms, MED 3.6 ms, SLOW 17 ms （最短測定時間）