特長

● ユーザーフレンドリー

• • シンプルな観察法の切り替え
  • ガイダンスで適切な画像を取得
  • サンプル交換時は安全かつ迅速に
  • 安定した照明
  • 人間工学に基づく快適な操作

● 多様性

• • MIX観察：見えなかったものが見える
  • 手動フォーカスハンドルで簡単に深度合成
  • 手動ステージで簡単にパノラマ撮影
  • 明部も暗部も同時に見やすく
  • 簡易計測から高度な画像解析まで

● 先進的な画像技術

• • 優れた光学性能を発揮：波面収差コントロール
  • 安定した色温度特性の高輝度白色LED照明
  • より正確な測定をサポート
  • サンプル起因の微小な輝度ムラを除去

主な仕様

	Entry		Standard		Advanced
光学系	UIS2光学系（無限遠補正）
顕微鏡本体	BX53MRF-S （落射仕様）	BX53MTRF-S （落射/透過仕様）	BX53MRF-S （落射仕様）	BX53MTRF-S （落射/透過仕様）	BX53MRF-S （落射仕様）	BX53MTRF-S （落射/透過仕様）
観察方法 （標準） ※	R-BF / T-BF		R-BF / T-BF / DF		R-BF / T-BF / DF / MIX
焦準	ストローク ： 25mm 微動ハンドル一回転 ： 100µm 最小目盛 ： 1µm 上限ストッパ、粗動ハンドル重さ調整機構付
最大サンプル高さ	落射 / 透過仕様 ：35mm（スペーサーなし）　75mm（BX3M-ARMAD使用時） 落射仕様 ：65mm（スペーサーなし）　105mm（BX3M-ARMAD使用時）
質量	落射 / 透過仕様 ：約18.3kg（本体のみ 7.6kg） 落射仕様 ：約15.8kg（本体のみ 7.4kg）

 

	Fluorescence		Infrared	Polarized
光学系	UIS2光学系（無限遠補正）
顕微鏡本体	BX53MRF-S （落射仕様）	BX53MTRF-S （落射/透過仕様）	BX53MRF-S （落射仕様）	BX53MTRF-S （落射/透過仕様）
観察方法 （標準） ※	R-BF / T-BF / DF / FL		R-BF / IR	T-BF / POL
焦準	ストローク ： 25mm 微動ハンドル一回転 ： 100µm 最小目盛 ： 1µm 上限ストッパ、粗動ハンドル重さ調整機構付
最大サンプル高さ	落射 / 透過仕様 ：35mm（スペーサーなし）　75mm（BX3M-ARMAD使用時） 落射仕様 ：65mm（スペーサーなし）　105mm（BX3M-ARMAD使用時）
質量	約15.8kg （本体のみ7.4kg）	約18.3kg （本体のみ7.6kg）	約18.9kg （本体のみ7.4kg）	約16.2kg （本体のみ 7.6kg）

※ 観察方法：R-BF：明視野（落射）、T-BF：明視野（透過 / 落射）、DF：暗視野、DIC：微分干渉 / 簡易偏光、MIX：MIX、FL ： 蛍光、IR：赤外線、POL：偏光
※ 落射・透過仕様の本体をお使いの場合は透過明視野観察も可能です。