近赤外分析計
NIRFlex N-500
日本ビュッヒ
迅速非破壊測定により日常分析のコスト削減と時間短縮を実現
近赤外分析計 NIRFlex N-500は安定性に優れた光学系を採用しています。実験室での使用に最適で、さまざまな測定オプションを利用できます。
特長
● 拡張性に優れたモジュール方式
● ファイバープローブの使用が可能
● 予備ランプ内蔵
● 標準物質によるバリデーションが可能
● タッチパネル操作可能
主な仕様
| 分光方式 | フーリエ変換方式（TeO₂偏光干渉計） |
| 測定波長 | 800～2500nm / 12500～4000cm⁻¹ |
| 平均ランプ寿命 | 12,000時間（6,000時間×2ランプ） |
| 電源 | 100～230V（50 / 60Hz） |
| 寸法（W×D×H） | 350×450×250 mm |
メーカー製品URL:
https://www.buchi.com/ja/products/instruments/nirflex-n-500
情報提供元: 日本ビュッヒ株式会社
・本ページに記載されている内容は抜粋情報となっております。詳細はメーカーHP、製品カタログ等をご参照ください。
また、製品・仕様は予告なく変更、製造中止となることがあります。
・当社営業エリア内の対応とさせていただきます。またエリア内であっても対応できない場合がございます。