X線回折装置（XRD）
D8 DISCOVERシリーズ
ブルカージャパン
一般的な粉末X線回折から最先端材料評価に至るまで、幅広いアプリケーションをカバー。すべてのD8 DISCOVERは高性能X線源、専用設計光学系、機能特化サンプルステージ、マルチモード検出器などの最新技術で最適な装置構成を構築することができます。
特長
● D8 DISCOVERは、結晶相の定性分析・定量分析をはじめ、構造解析、高分解能X線回折、反射率測定、逆格子空間マッピング、すれすれ入射測定（Out-of-plane, In-plane）、すれすれ入射小角X線散乱（GISAXS）、残留応力解析、集合組織解析、微小部回折など、X線回折・散乱をベースとしたあらゆる材料研究アプリケーションに対応できるように構成された多目的型X線回折プラットフォームです。
● DIFFRAC.DAVINCIは、装置構成をリアルタイムモニターし、指定したアプリケーションに対して異なる組み合わせがあれば、ユーザーに適切な構成を案内します。対話式インターフェースを採用したDIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージは、測定プログラムの作成を効率的に促します。
● D8ゴニオメーターを採用したD8 DISCOVERと、高精度ATLASゴニオメーターを採用したD8 DISCOVER Plusの2種類の基本プラットフォームをシリーズとしてラインナップしています。
情報提供元: ブルカージャパン株式会社
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