特長

● DR-M2
波長変更可能1100nm域対応モデル。
450～1100nm 内で波長を変えて屈折率・アッベ数（νd,νe）の測定ができます。光源、干渉フィルターが付属され、サンプルをプリズム面にセットして屈折視野の境界線をクロス線の交点に合わせれば、測定値はデジタル表示されます。

● DR-M4
高屈折率・波長変更可能1100nm域対応モデル。
450～1100nm内で波長を変えて屈折率・アッベ数（νd,νe）の測定ができます（681～1100nmはオプション仕様）。光源、干渉フィルターが付属され、 サンプルをプリズム面にセットして屈折視野の境界線をクロス線の交点に合わせます。測定値はデジタル表示されます。

● DR-M2/1550
波長変更可能1550nm域対応モデル。
DR-M2の1550nmまで測定可能なモデルです。1550nm域は近年の通信分野の素材開発において需要が多くなっています。光ファイバーの素材、フィルム、液晶、光学硝子などの測定に適しています。 屈折計本体、電源ユニット、白色光源装置、近赤外光ビュア、干渉フィルターで構成されます。

● DR-M4/1550
波長変更可能 1550nm域対応モデル。
DR-M4の1550nmまで測定可能なモデルです。1550nm域は近年の通信分野の素材開発において需要が多くなっています。光ファイバーの素材、 フィルム、液晶、光学硝子などの測定に適しています。屈折計本体、電源ユニット、 白色光源装置、近赤外光ビュア、干渉フィルターで構成されます。

主な仕様

型式		DR-M2	DR-M2/1550	DR-M4	DR-M4/1550
測定範囲	屈折率	1.3278～1.7379（450nm）		1.5219～1.9218（450nm）	1.5167～1.9166（450nm）
		1.3000～1.7100（589nm）		1.4700～1.8700（589nm）	1.4700～1.8700（589nm）
		1.2912～1.7011（680nm）		1.4545～1.8543（680nm）	1.4559～1.8557（680nm）
		1.2743～1.6840（1,100nm）		1.4260～1.8258（1,100nm）	1.4298～1.8296（1,100nm）
		－	1.2662～1.6759（1,550nm）	－	1.4211～1.8209（1,550nm）
測定精度	屈折率	±0.0002 （付属のテストピース500～650nmにて）	±0.0002 （付属のテストピース589nmにて）	±0.0002 （付属のテストピース500～650nmにて）	±0.0002 （付属のテストピース589nmにて）